測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：12-22 2020 來自：本站
二次元測量儀是工業中十分重要的精密測量儀器，其是用來測量產品及模具的位置度、同心度、直線度、輪廓度、圓度和與基準有關的尺寸等，那二次元測量儀的測量方法有哪些？
表面測量：
表面測量可以說是二次元測量儀十分主要功能，其主要是用于測量物體的表面圖形尺寸，在表面光源照明下，影像測量儀幾乎全都能測量，例如，電路板上的線路銅泊尺寸，IC電路等當被測物體是黑色塑料，橡膠時，影像測量儀也能輕易測量其尺寸。
輪廓測量：
很多機械零件都需對其素線形狀和截面輪廓形狀進行精準測量，而輪廓測量是二次元測量儀十分常用的方法，一般采用底部的輪廓光源，需要時也可加表面光做輔助照明，讓被測邊緣更加清晰，有利于測量工件的輪廓邊緣。
Z軸測量：
當二次元測量儀配上高倍物鏡，有足夠瞄準與定位精度時，設備就可以進行Z軸測量，這種測量方式一般應用在測量工件的臺階高度、暗孔深度，測量時使用表面光照明有更精準的效果。
以上是二次元測量儀常用的幾種測量方法，不同的測量方法有著對應適合的測量應用，根據測量需求選擇合適的測量方式能有效提升檢測精度，高品質的測量儀設備對檢測精度也有很大的提升，妙機精密科技目前可以為不同領域提供專屬的高精度影像測量儀！
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聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
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